HCP650-PM温控探针台 可搭配显微镜/光谱仪使用 防止负温下结霜，高温下氧化

HCP650-PM温控探针台
 
一、温控探针台简介：
HCP650-PM温控探针台可单独使用，也可搭配显微镜／光谱仪使用。 其可在－190°C~ 600°C范围内控温，允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成—个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。
 
HCP650-PM温控探针台，是一款温度范图－190°C~600°C 的温控探针台。使用时还可对样品气氛进行控制。 这样在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验，又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架， 使用的是弯针探针。 相比传统的直针探针， 这种设计不仅点针更准确，点针力度更大， 和样品的 电接触性更胜一筹。
 
冷热台可配合KEITHLEYKeysight等测量源表进行电学性能测量。
 
 
 
 
二、温控探针台产品特点：
1、可编程精密控温。可独立控制
2、探针需开盖移动，样品台面电接地
3、4探针，分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口杠杆式探针支架，电接触性更好，弯针探针，点针更精准
4、默认气密腔室，2个快速自锁接头，可充保护气体上盖带有样品观察窗
5、内置干燥气体管道，用千负温时对视窗的除霜
6、视窗可拆卸与更换，不同材质窗片实现不同观察
 
 
 
 
 
 
 
电学参数：
 
探针
默认为铼钨材质的弯针探针*可选其他种类探针
探针座
杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好
点针
手动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口
默认为BNC接头，可选三同轴接口
样品台面电位
默认为电接地，可选电悬空（作背电极），可选三同轴接口
 
 
 
三、温控探针台温控参数：
温度范围－190°C ~ 600°C（负温需配液氮制冷系统)
传感器／温控方式 1000铅° RTD/ PID控制° （含LVDC°降噪电源）
Zui大加热／制冷速度：＋80 (/min(100 (时）－50 (/min (100°(时）
Zui小加热／制冷速度：±0.01°C/min
温度分辨率：0.01°C
温度稳定性：±0.05°C（>25°C），±0.1°C（>25°C）
软件工程：可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线
 
 
加热参数
加热区/样品区： 28mm x30mm
样品腔高：6.3mm*样品Zui大厚度由探针决定
放样：打开上盖后置入样品再点针，关上盖后无法移动探针
气氛控制：气密腔，可充入保护气体
外壳冷却：可通循环水，以维持外壳温度在常温附近
安装方式：水平安装或垂直安装
台体尺寸／重量：180mm x 130mm x 26 mm/ 1500g